PRÄsentationen

Wir nehmen regelmäßig an Tagungen und Symposien teil. Hier finden Sie Präsentationen, die in diesen Veranstaltungen zum Einsatz kommen.

Präsentation
“Nicht nur Lötstellen sind wichtig”

Stich­worte aus dem Inhalt: Auf­fäl­lig­kei­ten auf der Spur, Kon­trolle und Rück­ver­folg­bar­keit, Lei­ter­plat­ten­qua­li­tät, Mehr­werte schaffen.

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    Präsentation
    Herausforderungen an die Röntgenanalyse elektronischer Baugruppen

    Stich­worte aus dem Inhalt: Ein­füh­rung in die Tech­nik, Funk­ti­ons­prin­zip, Bei­spiele aus der Ana­lyse, Check­liste für eine erfolg­rei­che Analyse.

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      Präsentation
      „Spotlight“ – Messen und Regeln beim Rework

      Stich­worte aus dem Inhalt: Kraft­mes­sung, Tem­pe­ra­tur­mes­sung, Unter­druck­mes­sung, Pro­zess­ver­rie­ge­lung und Traceability.

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        Präsentation
        „Traceability“ – in der elektronischen Kleinserienfertigung

        Stich­worte aus dem Inhalt: Mate­ri­al­fluss und Daten­strom, Rück­ver­folg­bar­keit von typi­schen Fer­ti­gungs­pro­zes­sen, Daten­an­wen­dung, Digitalisierung.

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          Präsentation
          „Ich sehe was, was Du nicht siehst“ – Der Weg von der Evaluierung bis zur effizienten Nutzung eines AOI-Systems

          Stich­worte aus dem Inhalt: Opti­sche und elek­tri­sche Test­ver­fah­ren, Auf­bau der Prüf­stra­te­gie, Evaluierung.

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            Präsentation
            „Dampfphasenlöten“ – pro / contra Vakuum

            Stich­worte aus dem Inhalt: All­ge­mei­nes zu Löt­ver­fah­ren, Funk­ti­ons­prin­zip Dampf­pha­sen­lö­ten, All­ge­mei­nes zum Vakuumlöten.

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              Präsentation
              „Der Reworkprozess – mehr als heiße Luft“

              Stich­worte aus dem Inhalt: Her­aus­for­de­run­gen an die Repa­ra­tur und Ana­lyse von Bau­grup­pen, Feh­ler­ur­sa­che bestim­men, Selek­tiv­lö­ten, Trace­ab­li­lity, Anwendungen.

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                Präsentation
                „Sinn und Möglichkeiten – der elektrischen Baugruppenprüfung“

                Stich­worte aus dem Inhalt: Test­ver­fah­ren, ICT, ICT Fly­ing Probe, Boun­dary Scan / JTAG, Funk­ti­ons­prü­fung, Kom­bi­na­tion der Testverfahren. 

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